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科研成果 |
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研究室 |
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重点实验室 |
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一种能对电离辐射总剂量进行测量的新型固体剂量仪
| 专利名称: |
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| 英文名称: |
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| 专利类别: |
发明专利
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| 申请号: |
98125702.X
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| 申请日期: |
1998-12-7
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| 授权日期: |
2003-7-23
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| 专利号: |
ZL98125702.X
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| 第一发明人: |
范隆
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| 其它发明人: |
严荣良;任迪远
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| 国外申请日期: |
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| 国外申请方式: |
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| 专利授权日期: |
2003-7-23
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| 缴费情况: |
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| 实施情况: |
本单位实施
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| 专利证书号: |
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| 专利摘要: |
本发明涉及一种能对电离辐射总剂量进行测量的新型固体剂量仪,其硬件由PMOS探头、辐照敏感物理参量-阈电压漂移的测量电路、PMOS探头的加偏电路和电源四部分构成。其软件由PMOS探头的温度特性测量、电路的温度补偿设计、探头的辐照偏置方式选择、辐照响应标定技术
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| 其它备注: |
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