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科研成果 |
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研究室 |
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重点实验室 |
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电子束和β射线两用外推电离室
| 专利名称: |
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| 英文名称: |
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| 专利类别: |
发明专利
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| 申请号: |
85102528.0
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| 申请日期: |
1985-4-1
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| 授权日期: |
1989-3-28
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| 专利号: |
ZL85102528.0
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| 第一发明人: |
靳涛
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| 其它发明人: |
李好贤;周光文
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| 国外申请日期: |
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| 国外申请方式: |
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| 专利授权日期: |
1989-3-28
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| 缴费情况: |
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| 实施情况: |
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| 专利证书号: |
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| 专利摘要: |
本发明是精确测量电子束和β射线在物质表面及深部吸收剂量的次级标准仪器．该仪器采用更换等效电离空腔，在电离空腔内部测量电离空气的温度，利用载片转盘自动改变窗口材料厚度等技术，配合成微型计算机应用系统能迅速、准确、连续地测定出电子束或β射线在多种材料表面和深部
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| 其它备注: |
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